四探針電阻率測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。

四探針電阻率測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設

參數資料

1.電阻范圍：10-5～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件;選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭： 探針間距選購：1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。

四探針測試儀原理,四探針電阻測試儀

參數資料

1.方塊電阻范圍：10-4～2×103Ω/□

2.電阻率范圍：10-5～2×104Ω-cm

3.測試電流范圍：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.2%讀數

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件;選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭： 探針間距選購：1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針