北京四探針電阻率測試儀參考標準：

GB/T3048電線電纜電性能試驗方法第2部分：金屬材料電阻率試驗

GB24525-2009 炭素材料電阻率測定方法

GB-T 19289-2003 電工鋼片(帶)的密度、電阻率和疊裝系數的測量方法

JB-T 6773-1993 金屬石墨制品   電阻率試驗方法1

北京四探針電阻率測試儀技術參數

電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
測量誤差±5%
測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 測量精度±（0.1%讀數）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
⑶誤差：±0.2%讀數±2字

主機外形尺寸：330mm*340mm*120mm

顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

標配：測試平臺一套、主機一套、電源線數據線一套。

測量范圍、分辨率（括號內為拓展量程，可定制）

電 阻：10.0×10-6  ～ 200.0×103 Ω, 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω

（1.0×10-6  ～ 20.00×103 Ω, 分辨率 0.1×10-6  ～ 0.01×103

Ω）

電 阻 率：10.0×10-6  ～ 200.0×103  Ω-cm 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω-cm

 1.0×10-6  ～ 20.00×103  Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103  Ω

方塊電阻：50.0×10-6  ～ 1.0×106  Ω/□ 分辨率 5.0×10-6  ～ 0.5×103 Ω/

5.0×10-6  ～ 100.0×103  Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω

四探針半導體粉末電阻率測試儀是測定電池極片電導值的常用方法。這是因為四點探針法消除了探針與樣品(壓縮片或涂層)之間的接觸電阻。然而，有兩點值得注意。首先，在大多數四探針方法中，電極材料的漿液在絕緣基板上涂上一薄層或適當厚度，而不是像鋁箔這樣的集電極材料。在絕緣基板上涂敷這種涂層的目的是為了準確地測試電極材料的電導率，避免向基板方向的支流。如果襯底電流收集器材料,即使分岔電流通過調整探頭的距離和其他方法,電流的方向平行轉移到涂料,忽略基體和涂層之間的區別,所以結果只能代表涂層的電阻。實際情況極片，但界面電阻。第二,電池的電極涂層在實際應用相對較厚和四探針方法忽略了涂層梯度的磁極,只獲得涂層的電阻貢獻的一部分,不能*描述磁極的電阻值。由于銅箔、鋁箔和探頭的材料均為高導電性材料，所以集流器和探頭的體電阻只占很小的一部分。但測試過程中的電子傳導路徑與實際電池極片基本相同。總測試值包括各部分的電子傳導特性。可以快速研究工藝對極片電阻的影響，直接在生產線上完成試驗。以粉末活性材料為例，連接粉末電阻測試系統和低電阻測試儀進行測試。粉末電阻測試不是測試單個粉末顆粒，而是測試整個聚集的粉末樣品。粉末聚集在氣缸和活塞系統中，由連接到油泵的活塞增壓。當壓力較小時，試樣密度相對較低，與粉末接觸較差，電導率較低，電阻率較高，但與強壓力相反。因此，需要特別注意的是，粉末樣品的電阻率/導電性會隨著壓力的增加而持續變化。濕度也會增加電導率，所以測試環境中的濕度也會影響測試。

四探針電阻率測試儀使用兩個位置測量，一個是直的，一個是方形的。單晶硅物理測試符合美國的a.s.t.m標準

雙電試驗法

使用當前探針和電壓探針的轉換進行兩個電測量，并執行數據的雙電測量和分析。

優勢

它會自動將樣本的幾何、邊界的影響、探針的等距離和機器的徘徊的影響排除在測量結果中。與4個直或方形探針的單一電測量相比，它提高了精度。

特別是傾斜的4個探針，非常適合測量微小區域。