50HZ工頻介電常數介質損耗測試儀

50HZ工頻介電常數介質損耗測試儀 

參數規格

1、測量范圍及誤差 

               在Cn＝100pF    R4＝3183.2(Ω)(即10K/π)時

測量項目 測量范圍 測量誤差

電容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF

介質損耗tgδ 0～1 ±1.5％tgδx±1×10-4

             在Cn＝100pF    R4＝318.3(Ω)(即1K/π)時

測量項目 測量范圍 測量誤差

電容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±2pF

介質損耗tgδ 0～0.1 ±1.5％tgδx±1×10-4

Cx＝R4×Cn/R3

tgδ＝ω?Ｒ４?Ｃ４

高壓電源技術特性

電壓輸出：0～2500V/50Hz

高壓電流輸出：0～20mA

內置標準電容器

電容量的名義值為100pF

tgδ小于5×10-5

固體絕緣材料測試電極

本電極適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復合制品、陶瓷和 玻璃等的相對介電系數（ε）與介質損耗角正切值（tgδ）的測試。本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對介電系數（ε）和介質損耗角正切值（tgδ）。本電極的設計主要是參照國標GB1409-2006。

  本電極采用的是三電極式結構，能有效的消除表面漏電流的影響，使測量電極下的電場趨于均勻電場。

50HZ工頻介電常數介質損耗測試儀 

影響介電性能的因素

下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。    

1）頻率

因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的ε和taδ幾乎是恒定的，且被用作工程電介質材料，然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和電容率。

電容率和介質損耗因數的變化是由于介質極化和電導而產生，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的。

2）溫度

損耗指數在一個頻率下可以出現一個zhi大值，這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質損耗指數zhi大值位置。

3）濕度

極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是的。 

注：濕度的顯著影響常常發生在1MHZ以下及微波頻率范圍內。

4）電場強度

 存在界面極化時，自由離子的數目隨電場強度增大而增加，其損耗指數zui大值的大小和位置也隨此而變。

 在較高的頻率下，只要電介質中不出現局部放電，電容率和介質損耗因數與電場強度無關。