鍍膜介電常數測定儀

鍍膜介電常數測定儀觸發方式 :內部, 手動, 外部, 總線

內部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 :電流模式（內阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能:10檔分選及計數功能

顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 :可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數字合成，

精度：±0.02%

電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數顯

電容測量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數顯

介電常數測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。

它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

微分頭分辨率：10μm

最高耐壓：±42Vp（AC+DC）

電纜長度設置：1m 

鍍膜介電常數測定儀介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對薄膜、各種板材及液態絕緣材料進行高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。     

列介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz～5MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

設備中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數通過公式計算得到。

1 特點：                            
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。

◎ 介電常數測量范圍可達1～105

2 主要技術指標：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

介質材料測試裝置提供四種不同直徑測試電極，

能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。它針對不同試樣

可設置為接觸電極法，薄膜電極法和

非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 最高耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長度設置：1m

2.4.4 最高使用頻率：30MHz 

B．自然頻率法（此法可獲得較準確的結果） a．將被測線圈接在“Lx"接線柱上；

b．將微調電容器度盤調至零，調諧電容器度盤調到最大電容值C1； c．調訊號源頻率，使回路諧振，該頻率為f1；

d．取下被測線圈，換上一個能在調諧電容器調節范圍內和十倍于f1頻率諧振的電感； e．訊號源調到10 f1位置，調節調諧電容器到諧振點；

f. 將被測線圈接在“Cx"兩端，調節調諧電容器達諧振，此時視電容讀數是增加還是減小。若增加，則應將振蕩器頻率調高些，若減小，則頻率調低些；

g. 再取下被測線圈，調節主調電容達到諧振；

h. 重復步驟“f"、“g"直到某一頻率，被測線圈接上“Cx"兩端和不接上均不改變諧振點，這一頻率即為被測線圈的自然諧振頻率f2，它的C0數值為：